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原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscopy，AFM）是一種高分辨率的掃描探針顯微鏡技術，通過檢測探針與樣品表面之間的微弱相互作用力來繪制出樣品表面的三維形貌圖。在AFM中，探針的選擇對成像質量和測量精度至關重要。膠體探針作為一...

緊湊型原子力顯微鏡基于量子力學中的隧道效應原理工作。當兩個物體之間的距離非常接近時，它們之間的電子云會發生重疊，從而產生隧道電流。通過測量這個隧道電流的變化，可以精確地探測到樣品表面的微小結構和形貌。具有亞納米級的分辨率，能夠清晰地觀察到原...

多功能掃描探針顯微鏡是一種強大的表面分析工具，它能夠在納米尺度上對材料的表面形貌、物理性質、化學性質等進行綜合分析。SPM家族中最常見的兩種類型是掃描隧道顯微鏡（STM）和原子力顯微鏡（AFM）。這些顯微鏡不僅在科學研究中發揮著重要作用，也...

多功能原子力顯微鏡（AFM）是一種具靈活性和高分辨率的表面分析儀器，它不僅能夠提供材料表面的三維形貌圖像，還能在納米尺度上對材料進行操控和性質測量。這種顯微鏡的出現極大地推動了材料科學、生物學、納米技術等領域的研究進展。原子力顯微鏡利用一根...

低溫掃描探針顯微鏡是一種高級的顯微成像技術，結合了掃描探針顯微鏡的高分辨率成像能力和低溫物理中的分子尺度研究方法。這種設備通常用于材料科學、生物學和納米技術的研究，尤其是在需要對樣品進行原子級成像時，同時要求減少熱激發或在接近絕對零度的條件...

原子力顯微鏡（AFM）是一種高精度的表面成像設備，它通過探針與樣品表面相互作用的力來進行掃描，實現原子級別的分辨率。然而，由于AFM對環境振動極為敏感，因此必須配合使用高性能的防震平臺，以確保測量的準確性和重復性。原子力顯微鏡用防震平臺的設...

針式掃描原子力顯微鏡（SPM）以其原子級別的高分辨率和對樣品非破壞性的檢測能力，成為科研及工業領域的先進分析工具。基于量子力學原理，通過一個尖銳的探針來感知樣品表面的原子力場。當探針尖與樣品表面接近時，原子間的排斥力或吸引力會導致探針發生微...

多功能原子力顯微鏡是一種高分辨率的顯微成像技術，不僅可以在納米尺度上對樣品表面進行形貌表征，還能研究物質的其他物理性質，如力學特性、磁性、電學性質等。核心部分是一根具有微小尖的懸臂梁（cantilever），其末端裝有探針。當探針靠近樣品表...