原子力顯微鏡探針是一種用于表征材料和生物樣品表面形貌和特性的重要工具。其核心工作原理是通過超尖銳的探針與樣品表面之間的相互作用來獲取微觀結構的信息。在AFM中，探針的設計和性能直接影響圖像的質量和測量的精度。原子力顯微鏡探針的類型：1.硅微探針硅微探針是最常見的AFM探針類型，通常通過光刻或微加工技術制成。這類探針具有......

緊湊型原子力顯微鏡是一種新型的原子力顯微鏡（AFM），其設計目標是結合高分辨率成像能力與小巧便攜的結構，適用于多種應用場合。由于其體積小、價格合理和高性能，緊湊型AFM在材料科學、生物研究、納米技術等領域日益受到關注。緊湊型原子力顯微鏡的工作原理：1.探針與樣品相互作用：當一個極細的探針（尖直徑通常為幾個納米）接近待分......

多功能原子力顯微鏡（AFM）是一種高分辨率的成像技術，廣泛應用于納米技術和材料科學領域。這種顯微鏡可以對表面形貌進行三維成像，同時還可以通過多種模式進行材料的物理和化學性質研究。多功能原子力顯微鏡的基本結構：1.光學系統：用于激光的發射和探測，通常包含激光、分束器和光電二極管，可以有效地傳遞信號。2.探針支撐系統：包括......

多功能掃描探針顯微鏡（ScanningProbeMicroscope,SPM）是一類利用尖銳探針與樣品表面之間的相互作用進行成像和測量的高分辨率顯微鏡。SPM能夠在原子級別上觀察物質表面，廣泛應用于材料科學、納米技術、生命科學等領域。多功能掃描探針顯微鏡的工作原理：1.接觸力（ContactForce）：在探針與樣品直......